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廣西的破壞物理性分析-DPA測試-工藝缺陷檢驗中心

更新時間1:2025-10-03 信息編號:103fbo548df8b3 舉報維權(quán)
廣西的破壞物理性分析-DPA測試-工藝缺陷檢驗中心
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供應商 廣電計量檢測集團股份有限公司 店鋪
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關(guān)鍵詞 的破壞物理性分析,廣西破壞物理性分析,可靠的破壞物理性分析,當?shù)仄茐奈锢硇苑治?
所在地 廣東廣州番禺石碁鎮(zhèn)創(chuàng)運路8號廣電計量科技產(chǎn)業(yè)園
曾先生
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5年

產(chǎn)品詳細介紹

廣電計量破壞性物理分析(DPA)測試適用于集成電路芯片、電子元件、分立器件、機電類器件、線纜及接插件、微處理器、可編程邏輯器件、存儲器、AD/DA、總線接?類、 通?數(shù)字電路、模擬開關(guān)、模擬器件、微波器件、電源類等。

GRGTEST破壞性物理分析(DPA)測試標準
●GJB128A-97半導體分?器件試驗方法
●GJB360A-96電子及電?元件試驗方法
●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
●GJB7243-2011電子元器件篩選技術(shù)要求
●GJB40247A-2006電子元器件破壞性物理分析方法
●QJ10003—2008進口元器件篩選指南
●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序

對于DPA中暴露的問題,只要元器件承制廠所與DPA實驗室緊密結(jié)合,進行分析與跟蹤,準確找出導致缺陷產(chǎn)生的原因,采取有針對性的整改措施,則大多數(shù)缺陷模式是可以得到控制或消除的。
破壞性物理分析(DPA)技術(shù)不但適用于J用電子元器件,而且也同樣適用于民用電子元器件,如采購檢驗、進貨驗貨及生產(chǎn)過程中的質(zhì)量監(jiān)測等均可應用DPA技術(shù)。
廣電計量破壞性物理分析(DPA)測試能夠為J品及民品企業(yè)提供一站式服務,報告可靠。

廣電計量DPA測試以預防失效為目的,防止有明顯或潛在缺陷的元器件上機使用;確定元器件在設計和制造過程中存在的偏差和工藝缺陷;評價和驗證供貨方元器件的質(zhì)量;提出批次處理意見和改進措施。
DPA分析技術(shù)可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的材料、工藝等方面的缺陷,這些缺陷終導致元器件失效的時間是不確定的,多數(shù)為早期失效,但所引發(fā)的后果是嚴重的。

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù),擁有業(yè)界的團隊及的失效分析設備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫助制造商快速準確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

電子元器件制造?藝質(zhì)量?致性是電子元器件滿足其用途和相關(guān)規(guī)范的前提。?量假冒翻新元器件充斥著元器件供應市場,如何確定貨架元器件真?zhèn)问抢_元器件使用方的?大難題。廣電計量DPA測試確定元器件在設計和制造過程中存在的偏差和工藝缺陷,提出批次處理意見和改進措施等多方面的檢測分析需求。

所屬分類:檢測服務/性能檢測

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