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X射線熒光膜厚儀

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  • X射線熒光膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀EDX2000A
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • X射線熒光膜厚儀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜儀
    X射線測(cè)厚儀使用而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • X射線熒光膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器廠家
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • X射線熒光膜厚儀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月07日
  • X熒光膜厚儀金屬厚度分析儀X熒光分析儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • 聚丙烯光譜儀耗材薄膜3024#
    X射線熒光膜、土壤樣品杯膜、X-RAY樣品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS測(cè)試膜--美國(guó)Chemplex-3024# 現(xiàn)貨供應(yīng):XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、RO..
    08月02日
  • X熒光膜厚儀鍍金層測(cè)厚儀天瑞儀器廠家
    選擇X熒光鍍層測(cè)厚儀的準(zhǔn)直器時(shí),需綜合考慮以下因素以確保測(cè)量精度和適用性: 1. **鍍層類型與厚度范圍** - **薄鍍層(如幾十納米至幾微米)**:選擇小孔徑準(zhǔn)直器(如0.1mm或0.2mm)..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀鉻層測(cè)厚儀五金件鍍層分析儀
    銅鍍鎳是一種常見的電鍍材料,廣泛應(yīng)用于汽車、電子和航空航天等行業(yè)。在制造過程中,需要確保銅鍍層的厚度符合要求,以保證產(chǎn)品的質(zhì)量。使用鍍層測(cè)厚儀可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)量銅鍍層的厚度,從..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜分析儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀鍍層分析儀國(guó)產(chǎn)品牌
    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的廠家天瑞專業(yè)生產(chǎn)此類設(shè)備。您可以通過天瑞官方網(wǎng)站或者聯(lián)系他們的客服,了解更多關(guān)于他們的產(chǎn)品信息和服務(wù)。祝您找到適合的設(shè)備和廠家。上照式鍍層測(cè)厚儀和下照式鍍層..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀金層測(cè)厚儀鐵鍍鉻厚度測(cè)試儀
    X射線鍍層測(cè)厚儀的探測(cè)器非常重要,它是設(shè)備的核心部件之一,直接影響測(cè)量精度和可靠性。探測(cè)器的主要作用是將X射線信號(hào)轉(zhuǎn)換為可測(cè)量的電信號(hào),其性能決定了儀器的靈敏度、分辨率和穩(wěn)定性。 ..
    10月06日
  • X熒光膜厚儀鍍鎳厚度測(cè)試儀不銹鋼鍍鎳測(cè)厚儀
    選擇X熒光鍍層測(cè)厚儀的準(zhǔn)直器時(shí),需綜合考慮以下因素以確保測(cè)量精度和適用性: 1. **鍍層類型與厚度范圍** - **薄鍍層(如幾十納米至幾微米)**:選擇小孔徑準(zhǔn)直器(如0.1mm或0.2mm)..
    10月06日
  • X射線熒光膜厚儀測(cè)厚儀
    X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間..
    10月07日
  • X射線膜厚儀測(cè)厚儀天瑞光譜儀
    2016年7月28日,“2016天瑞儀器合作伙伴峰會(huì)” 在昆山國(guó)際會(huì)展酒店順利召開。此次峰會(huì)為期兩天,天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士、副總經(jīng)理黎橋先生、以及來(lái)自全國(guó)各地的天瑞儀器合作伙伴參加了此次峰..
    10月07日
  • 鍍鉻膜厚儀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀X射線熒光光譜儀
    X射線測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算..
    10月07日
  • X射線熒光膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀
    X熒光測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測(cè)定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,它也可以進(jìn)行電鍍液的成分濃度測(cè)定。它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度,無(wú)需樣品預(yù)處理;分析時(shí)間..
    10月07日
  • 鍍銀膜厚儀快速鍍層測(cè)厚儀X射線熒光光譜儀
    Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 2、性能優(yōu)勢(shì) ..
    10月07日
  • X射線膜厚儀無(wú)損鍍層測(cè)厚儀X熒光光譜儀
    基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。 X射線測(cè)..
    10月06日
  • X射線膜厚儀上照式鍍層測(cè)厚儀天瑞儀器
    X射線測(cè)厚儀: 利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目..
    10月06日

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