三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CMM）的精密應(yīng)用：三維坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是精密制造業(yè)中的“顯微鏡”，通過(guò)精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)、傳感器和的測(cè)量軟件，對(duì)復(fù)雜形狀和尺寸的零部件進(jìn)行、的三維測(cè)量。廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車制造、電子通訊等行業(yè)，確保產(chǎn)品的每一個(gè)細(xì)節(jié)都符合設(shè)計(jì)要求，提升產(chǎn)品品質(zhì)和競(jìng)爭(zhēng)力。

納米級(jí)掃描電子顯微鏡（SEM）探索微觀世界：掃描電子顯微鏡利用聚焦電子束在樣品表面掃描，激發(fā)二次電子等信號(hào)來(lái)成像，其分辨率可達(dá)到納米級(jí)，甚至亞納米級(jí)。在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體技術(shù)等領(lǐng)域，SEM成為研究微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌和化學(xué)成分的重要工具，為精密量測(cè)和科學(xué)研究開辟了全新的視角。

形位公差，一般也稱為幾何公差，是機(jī)械加工后零件的實(shí)際要素相對(duì)于理想要素所允許的誤差范圍，這些誤差包括形狀誤差和位置誤差。形位公差是零件設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中不可或缺的重要參數(shù)，它直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。