江門回收充電芯片 收購希捷硬盤

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X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以待測樣品分析測量的精度，被分析樣品的制樣技術(shù)成為影響分析準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在分析結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾個(gè)方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。