GRGTEST破壞性物理分析(DPA)測試標準
●GJB128A-97半導體分?器件試驗方法
●GJB360A-96電子及電?元件試驗方法
●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
●GJB7243-2011電子元器件篩選技術(shù)要求
●GJB40247A-2006電子元器件破壞性物理分析方法
●QJ10003—2008進口元器件篩選指南
●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界的團隊及的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測服務，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。同時，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務，如配合客戶開展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

廣電計量視公信力為企業(yè)生命，技術(shù)能力獲得了眾多國內(nèi)外機構(gòu)和組織的認可和授權(quán)，通過了中國合格評定國家認可（CNAS）、中國計量認證（CMA）、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測機構(gòu)（CATL）認可，是國家食品復檢機構(gòu)、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室。目前已獲得CNAS認可45053項參數(shù),CMA認可65113項參數(shù)，CATL認可覆蓋7922項參數(shù)；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)發(fā)展過程中，廣電計量還獲得、行業(yè)及社會組織頒發(fā)的資質(zhì)榮譽200余項?；诒椴既珖姆站W(wǎng)絡(luò)和公信力，廣電計量幫助客戶穩(wěn)健開拓本地市場乃至全球市場。